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堀場X射線熒光分析儀Horiba X射線熒光分析儀，快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作簡單。Horiba X射線熒光分析儀技術參數： Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm 使用1.2mm/3mm X射線導管技
堀場X射線熒光分析儀
Horiba X射線熒光分析儀，快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作簡單。
Horiba X射線熒光分析儀技術參數：
★ Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm
★ 使用1.2mm/3mm X射線導管技術（XGT）實現微小區域的高靈敏度分析
★ 采用大型試樣室（460X360X150㎜）
★ 試樣為塑料、金屬、紙、涂料、油漆等，并實現無損檢測
★ 可使用CCD照相機（50倍）試樣的位置
★ 測定可一鍵實現簡單操作
★ 自動元素干擾修正、厚度補償
★ 數據輸出到EXCEL并可依據管理值實現自動判定功能
